Metromeet se consolida como el foro de referencia del mundo metrológico

Toni Ventura, CEO de Datapixel, ha abierto la Conferencia con una carismática ponencia sobre la resiliencia en la industria Metrológica mediante la Transformación Digital en la que deslumbraba el camino hacia la superación de momento difíciles de la industria como el vivido por el Covid-19 gracias a la innovación, la digitalización y la anticipación al cambio y acababa su intervención con una reflexión “Metromeet es un escaparate para todos esos avances y las tecnologías que promueven la innovación en la industria y en procesos de fabricación”.

Durante el primer día de la conferencia expertos oradores como Narendra Akhadkar, Daniel Campbell y Edward Morse, compartieron sus valiosos conocimientos sobre temas como el uso de MBD para flujos de trabajo de diseño, planificación de calidad y QIF. Jesús Alonso habló sobre el marco IDS para compartir datos metrológicos y Federico Grasso Toro explico la digitalización de los servicios de metrología para extender la trazabilidad de la cadena de producción y garantizar la confianza digital. También se han presentado innovaciones emocionantes como las expuestas por Matthias Karl, Brahim Ahmed (RoboKom) y Thomas Engel (GEMIMEG-II), proyectos para el uso de robots móviles bajo demanda para medición de objetos de gran tamaño, la compensación de robots y la digitalización de procesos de calibración en metrología.

En el segundo día de Metromeet, Gerd Schwaderer en la sesión especial explico como la metrología y la simulación deben ir de la mano gracias a la inteligencia artificial. Dimitris Kyritsis y Ainhoa Etxabarria exploraron el potencial de la metrología virtual para aplicaciones de mecanizado. Ibon Holgado, Pablo Antunes da Rosa y Joe Eastwood abarcaron temas desde la evaluación metrológica de piezas de aluminio fabricadas por adición, evaluación de las fijaciones mediante modelado por deposición fundida (FDM), hasta la estimación de la posición de objetos mediante difusión de rayos. Andrea Pellegrini habló sobre sobre la importancia del soporte metrológico en el montaje de grandes estructuras, Serafeim Moustakidis y Eleni Lavasa explicarón el proyecto XMAMAI, que se basa en usar Inteligencia Artificial Explicable para los procesos de medición y James Schipmann Eger, por su parte, habló de la incertidumbre en la posición medida con MEMS.

Después de dos días con temas tan atractivos como la medición autónoma, soluciones de medición para impresión 3D, la implementación de la inteligencia artificial y la Industria 5.0, la mesa redonda formada por Jesús de la Maza, Toni Ventura, Dimitris Kyritsis, Edward Morse y Federico Grasso Toro (quien recibió la Txapela honorifica de Metromeet) daba cierre a la Conferencia. Trataron temas de vital importancia en el desarrollo de la Industria como la implementación de nuevas tecnologías, de la inteligencia artificial y de la automatización para agilizar procesos y la innovación como herramienta que facilita la resiliencia ante momentos como los vividos con el Covid-19.

Metromeet ha conseguido con estos dos días de conferencia, sacar conclusiones sobre las principales necesidades del sector y debatir acerca del futuro de la metrología con profesionales con distintas percepciones y distintas experiencias. A través de Metromeet, la Asociación Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico y su claro posicionamiento como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.