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En su 15º aniversario, la conferencia de metrología ha conseguido concentrar a los principales ejecutivos de empresas con mayor proyección internacional como Innovalia, LMI Technologies, Autodesk, CIN Advanced Systems, Capvidia, Novo Nordisk, Zeiss, Faro o Renishaw además de las principales instituciones a nivel mundial como el PTB, la Universidad de Nottigham, la de Antwerp, el CFAA o Tekniker.
Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, CIN Advanced system, Faro, Zeiss y LMI Technologies esta 15ª edición de Metromeet contaba con contenido innovador de gran interés y ha permitido descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0. La inauguración de la Conferencia ha tenido lugar en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, donde el chairman, Lorenzo Carli, metrólogo senior de Novo Nordisk y Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, han compartido las directrices de Metromeet y los objetivos del encuentro.
Toni Ventura, CEO de Datapixel, ha abierto la Conferencia con un Tutorial carismático en el que deslumbraba el camino hacia la fabricación de Zero Defectos gracias a la Metrología y acababa su intervención con una reflexión “Metromeet permite que personas de distintos países, empresas y edades, miremos unidas hacia el futuro de la Metrología”
La 15ª edición de Metromeet ha destacado también por nuevo contenido que ha generado mucho interés y expectación. Ray Admire, colaborador del NIST, traía desde Texas (Estados Unidos) una genial presentación acerca de los estándares de fabricación QIF. Ainhoa Etxabarri ha presentado el segundo día de conferencia “Metrología en Mecanizado” una ponencia en la que además de presentar M3MH, un Software único de medición que permite la conexión directa con el CNC, presentaba una nueva manera de medir, de producir y de optimizar los procesos industriales.
Después de poner sobre la mesa temas tan atractivos como la medición híbrida, QIF, soluciones de software para impresiones 3D y la Industria 4.0, Metromeet daba por finalizada las dos primeras jornadas de la Conferencia, dando paso al último día de Metromeet mediante una mesa redonda liderada por Toni Ventura, CEO de Datapixel, Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, Lorenzo Carli, chairman de la Conferencia, Ray Admire Presidente de la asociación DMSC y colaborador del NIST junto con Alain Pfouga, gerente de la asociación Prostep IVIP.
La mesa redonda que daba cierre a la Conferencia trataba temas de vital importancia en el desarrollo de la Industria como los estándares de fabricación, la interoperabilidad y la gestión de datos en la fábrica del futuro.
El último día de la Conferencia tuvo lugar en Bodegas Baigorri donde los asistentes disfrutaron de un contenido innovador gracias a ponentes como Sara García, campeona de rally TT en 2016 y 2017 y participante en el Dakar 2019 Malle Moto. Durante la última jornada de Metromeet, los asistentes disfrutaron de un contenido donde vieron aplicaciones de tecnología y nuevos desarrollos gracias también a ponentes de LMI Technologies y CIN Advanced Systems.
Metromeet ha conseguido con estos días de Conferencia, sacar conclusiones sobre las principales necesidades del sector y debatir acerca del futuro de la metrología con profesionales con distintas percepciones y distintas experiencias. A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico y su claro posicionamiento como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.
