Bilbao descubre el rol de la metrología en la Industria 4.0 gracias a Metromeet 2017

Metromeet ha comenzado su 13ª edición este 22 de marzo a las 9h, dando la bienvenida a Daniel Campbell (Texas EEUU), uno de los ponentes más esperados, que ha brindado a la audiencia la oportunidad de descubrir los retos, aplicaciones e influencia del estándar QiF (Quality Information Framework) en el futuro de Industria 4.0.

La exposición de Daniel Campbell ha marcado un punto de referencia en Metromeet 2017, asentando bases de diálogo constante con los asistentes y participación continua. Los asistentes han tenido la oportunidad de conocer personalmente a una de las figuras más relevantes de la metrología americana, resolver dudas y desvelar de tú a tú los principales secretos del QiF.

A continuación, la organización de Metromeet ha ofrecido un desayuno, espacio de ocio en el que sponsors, ponentes, expositores y asistentes han compartido desarrollos y trayectorias. Patrocinado por Watify, iniciativa de la Comisión Europea para la promoción de tecnología, este espacio ha contado además con una breve exposición por parte del CDTI (Centro para el Desarrollo Tecnológico Industrial) en el que se han expuesto los detalles sobre oportunidades internacionales para la realización de proyectos de fabricación avanzada.

La inauguración de la Conferencia ha tenido lugar en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, donde Maurizio Ercole y Toni Ventura han compartido las directrices de Metromeet, los objetivos del encuentro y han desvelado la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0. Durante su intervención, Toni Ventura ha querido comunicar y compartir con los asistentes el potencial de esta jornada. “Durante mi carrera profesional, he tenido la suerte de asistir a numerosas Conferencias, pero Metromeet nos ofrece la perspectiva de fabricantes, usuarios e investigadores en un mismo entorno” comentaba el carismático Toni Ventura.

La inauguración de la Conferencia ha contado además con la intervención de Maurizio Ercole, Chairman oficial de Metromeet, que ha compartido con los asistentes su visión sobre la importancia de la metrología en el panorama actual además de los retos y éxitos de su trayectoria profesional como padre de la metrología dimensional.

Tras la inauguración, Aleksei Resetko, manager de Price Waterhouse Coopers, se ha convertido en otro de los principales protagonistas del día, haciendo gala de su know-how con su ponencia “El futuro del Big Data en el Industria 4.0”. Aleksei ha comentado cómo está cambiando la forma en la que la industria gestiona y explota la información que genera, la forma en la que se construyen y proporcionan nuevos servicios y cómo el control de calidad es una de las áreas que está recibiendo y recibirá más atención en el futuro.

Con la intervención de Aleksei Resetko finalizaban las primeras ponencias del día dando paso a 5 intervenciones de carácter más técnico que han tenido lugar, también en el Palacio Euskalduna, de 15h a 18h.

Gracias a los ponentes, principales ejecutivos de empresas con gran proyección internacional como Metrosage, Capvidia, PwC, Innovalia Metrology, Novo Nordisk A/S, Fraunhofer IPT, Renishaw, Tekniker y Autodesk entre muchas otras, Metromeet se ha convertido una vez más en la conferencia de carácter industrial más aplaudida del año, reuniendo también a representantes de diferentes universidades internacionales y otros centros tecnológicos como el IAC y el PTB. Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, Faro y Zeiss, esta 13ª edición de Metromeet ha traído contenido innovador de gran interés, en el que se incluyen las aplicaciones y progresos de las últimas tecnologías y que construye un foro de debate sobre un sector que evoluciona a una velocidad exponencial.

Con más de 20 ponentes y su gran proyección internacional, Metromeet convierte a Bilbao en la capital de la Industria 4.0, poniendo una vez más a disposición de los asistentes infinitas posibilidades comerciales y de networking, además de increíbles soluciones tecnológicas que ayudarán a las empresas del País Vasco a alcanzar una fabricación de cero defectos.

Después de este primer día de Metromeet, los asistentes empiezan ya a impacientarse por las ponencias y el programa del 23 de marzo. Segunda jornada en la que de nuevo se pondrán sobre la mesa temas tan atractivos como la microscopia ultrarápida y los requerimientos metrológicos del Instituto de Astrofísica de Canarias.

A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico a la vez que su reconocimiento europeo como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de procesos de fabricación.